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静电防护在wafer fab中的价值-Reticle
Photolithography(简称PHOTO,光刻),是半导体Wafer fab中最为核心技术的生产工序段。 Reticle,也称为photo mask(光罩),则是PHOTO工序必不可缺少的关键工具。Reticle的自身完好性,对wafer线路光刻的精准性起着决定性的作用。
了解更多03 / 2018
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静电保护(ESD)原理和设计
静电放电(ESD: Electrostatic Discharge),应该是造成所有电子元器件或集成电路系统造成过度电应力(EOS: Electrical Over Stress)破坏的主要元凶。 因为静电通常瞬间电压非常高(>几千伏),所以这种损伤是毁灭性和永久性的,会造成电路直接烧毁。 所以预防静电损伤是所有IC设计和制造的头号难题
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电磁兼容项目-静电放电抗扰度测试介绍
静电放电抗扰度测试范围: 本标准规定电气和电子设备遭受直接来自操作者和对邻近物体的静电放电的抗扰度要求和试验方法,还规定了不同环境和安装条件下试验等级的范围和试验程序.
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